计算材料磁化率、极化率、介电函数、折射指数

本文以二维材料为例，实际上也可以计算三维周期性体系，而且更简单。

二维材料的建模，参考：从三维晶体切割出二维表面，本文以单层MoS2为例。结构如下：

    Atoms
        Mo -1.58000000 -0.91221342 -1.58055000
        S 0.00000000 0.00000000 0.00000000
        S 0.00000000 0.00000000 -3.16110000
    End
    Lattice
        3.16 0.0 0.0
        1.58 2.73664028 0.0
    End

复制以上内容，在Input窗口粘贴即可。三维、一维材料计算过程类似。参数设置如下：

其中k空间布点，建议采用对称化布点：Details → K-space Integration → K-Space grid type选择Symmetric。

晶体实空间取消对称性：

这里Method选择Newresponse；计算从1.0～3.0eV的61个频率（波长和能量的转换参考：能量的单位）；计算介电张量的zz方向分量，用户可以根据自己需要勾选：

由于介电函数的数值依赖于二维体系的体积，而体积具有任意性（比如不同超胞对应的体积就不一样，但理论上得到的应该是一样的介电函数才对）。我们可以调整上图中的Volume cutoff项，让计算得到的静态介电常数与实际符合。之后使用这个Volume cutoff计算頻变介电常数。

对于三维晶格则没有这个问题，不需要调整Volume cutoff，低维材料如果知道材料的密度，从而建模成三维晶格模型，也就没有这个问题。

Low Frequency Algorithm：这是针对频率范围小于1 eV的情况下建议勾选，这是针对低频介电函数的另一种特殊算法,，结果更稳定。但该算法不适用于占据带-空带带隙小的体系，因此一般情况下，会设置介电函数窗口Shift选项的值＞0.0 eV，人为地抬高空带。而对没有带隙的体系，例如单层石墨烯，这种方法无法使用。

保存任务，并运行。

SCM > Spectra，本例只计算了z方向分量，所以默认显示ZZ分量介电函数。

Spectra窗口 > 菜单栏Spectra > TD-CDFT > 可以查看磁化率、极化率、介电函数、折射指数的zz分量。

所谓介电常数，是指外加电场频率趋近于0的情况下，介电函数的值，因此“stating frequency”和“end frequency”可以设置为接近0，例如0.0001、1，通过得到的介电函数趋近于0的渐进值得到介电常数。